• norsk
    • English
  • norsk 
    • norsk
    • English
  • Logg inn
Vis innførsel 
  •   Hjem
  • Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk (IE)
  • Institutt for elektroniske systemer
  • Vis innførsel
  •   Hjem
  • Fakultet for informasjonsteknologi og elektroteknikk (IE)
  • Institutt for elektroniske systemer
  • Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Characterization of Solar Cell Wafers with Low Coherence Interferometry

Simonsen, Ove
Master thesis
Thumbnail
Åpne
438445_COVER01.pdf (126.1Kb)
438445_FULLTEXT01.pdf (30.23Mb)
Permanent lenke
http://hdl.handle.net/11250/2370222
Utgivelsesdato
2011
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
  • Institutt for elektroniske systemer [1575]
Sammendrag
Characterize silicon wafers used in solar cell production with a NIR-LCI interferometer. The interferometer is further developed and measurements on silicon samples are carried out.
Utgiver
Institutt for elektronikk og telekommunikasjon

Kontakt oss | Gi tilbakemelding

Personvernerklæring
DSpace software copyright © 2002-2019  DuraSpace

Levert av  Unit
 

 

Bla i

Hele arkivetDelarkiv og samlingerUtgivelsesdatoForfattereTitlerEmneordDokumenttyperTidsskrifterDenne samlingenUtgivelsesdatoForfattereTitlerEmneordDokumenttyperTidsskrifter

Min side

Logg inn

Statistikk

Besøksstatistikk

Kontakt oss | Gi tilbakemelding

Personvernerklæring
DSpace software copyright © 2002-2019  DuraSpace

Levert av  Unit