Toggle navigation
norsk
English
norsk
norsk
English
Logg inn
Toggle navigation
Vis innførsel
Hjem
Øvrige samlinger
Publikasjoner fra CRIStin - NTNU
Vis innførsel
Hjem
Øvrige samlinger
Publikasjoner fra CRIStin - NTNU
Vis innførsel
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Comparative study of semiconductor devices based on a meta-parameterised approach: SiC MOSFET vs Si IGBT technologies
Barrera-Cardenas, Rene Alexander
;
Isobe, Takanori
;
Molinas Cabrera, Maria Marta
Chapter
Åpne
Barrera-Cardenas (Låst)
Permanent lenke
https://hdl.handle.net/11250/2980065
Utgivelsesdato
2016
Metadata
Vis full innførsel
Samlinger
Institutt for teknisk kybernetikk
[3789]
Publikasjoner fra CRIStin - NTNU
[38627]
Originalversjon
10.1109/IPEMC.2016.7512838
Utgiver
IEEE
Opphavsrett
The published version of the article will not be available due to copyright restrictions by IEEE
Hele arkivet
Denne samlingen
Bla i
Hele arkivet
Delarkiv og samlinger
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Denne samlingen
Utgivelsesdato
Forfattere
Titler
Emneord
Dokumenttyper
Tidsskrifter
Min side
Logg inn
Statistikk
Besøksstatistikk