Evolusjon av feil-tolerante digitale kretser ved bruk av en beregningsklynge

Abstract

Elektroniske kretser er meget sårbare for feil. Tradisjonelle løsninger for kjøretids feiltoleranse, innebærer normalt en reprodusering av funksjonelle enheter etter kjente metoder. Ved bruk av evolusjon (for eksempel genetiske algoritmer) er det mulig å oppnå uvanlige arkitekturer, hvorav noen kan ha fordeler innen feiltoleranse. Denne rapporten ser på evolusjon av kretser, der det til en hver tid eksisterer en inverteringsfeil. Kretser som resulterer etter evolusjonen blir så testet grundig, både med og uten feil. Gjennom et omfattende sett av eksperimenter som er utført, vil resultatene granskes og presenteres her. Resultatene vil vise at i de fleste tilfellene, vil evolusjonen, selv med feil, finne fram til en krets som vil fungere etter spesifikasjonen, når feilen ikke er til stede. Den største faktoren her er antall tilgjengelige porter under evolusjon. Er den for liten, vil ikke evolusjonen oppnå en fungerende krets, er den for stor, vil det oppstå grupper av porter som ikke har en funksjon i kretsen.