Vis enkel innførsel

dc.contributor.authorHorvli, Mari Ellefsennb_NO
dc.date.accessioned2014-12-19T13:16:34Z
dc.date.available2014-12-19T13:16:34Z
dc.date.created2010-05-26nb_NO
dc.date.issued2009nb_NO
dc.identifier320691nb_NO
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11250/246340
dc.languageengnb_NO
dc.publisherNorges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Fakultet for naturvitenskap og teknologi, Institutt for fysikknb_NO
dc.titleCrystal defect studies of silicon for solar cells: scanning and transmission electron microscopynb_NO
dc.typeMaster thesisnb_NO
dc.contributor.departmentNorges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Fakultet for naturvitenskap og teknologi, Institutt for fysikknb_NO


Tilhørende fil(er)

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

Denne innførselen finnes i følgende samling(er)

Vis enkel innførsel