Høyttalermåling av Thiele/Small-parametre

Abstract

Denne rapporten omhandler et prosjekt som tar for å teste en ny metode for å beregne Thiele/Small-parametrene til et element. Tidligere metoder har historisk sett gått på å måle impedansen til elementet i fritt felt og i en lukket kasse. Dette er en tidkrevende prosess. Det er dermed ønskelig å kunne beregne parametrene ved å gjøre kun en måling. En nyere metode av Klippel og Seidel bruker en laser for å måle membranutsvinget, men dette er svært kostbart utstyr. Derfor er det ønskelig å se om man kan klare dette ved å benytte to mikrofoner istedenfor. Metoden går ut på å beregne membranhastigheten ved å måle partikkelhastigheten nært elementet med to mikrofoner, for så å kompensere for måleavstanden. Overføringsfunksjonen fra terminalspenning til membranhastighet blir så brukt til å estimere parametrene ved kurvetilpasning av overføringsfunksjonen til måledataene. For at kurvetilpasningen skal konvergere, må DC-motstanden til elementet måles, siden det er ingen redundans i målingen og at det er ikke tilstrekkelig nøyaktig ved veldig lave frekvenser. Dette blir så sammenlignet med å måle membranhastigheten med en laser. Resultatene viser at det er vanskelig å gjøre en nøyaktig kompensering av måleavstanden. Dette kommer av at den effektive måleavstanden varierer med den målte avstanden fra elementet til mikrofonene. Det blir vist at ved å kompensere for måleavstanden får man et resultat som tilsvarer det fra en laser, men det er ikke klart å finne en generell metode for å gjøre dette.