Vis enkel innførsel

dc.contributor.authorMartinussen, Hannenb_NO
dc.date.accessioned2014-12-19T13:42:46Z
dc.date.accessioned2015-12-22T11:40:02Z
dc.date.available2014-12-19T13:42:46Z
dc.date.available2015-12-22T11:40:02Z
dc.date.created2010-01-07nb_NO
dc.date.issued2009nb_NO
dc.identifier284547nb_NO
dc.identifier.isbn978-82-471-1695-1 (printed ver.)nb_NO
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11250/2368862
dc.languageengnb_NO
dc.publisherNorges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Fakultet for informasjonsteknologi, matematikk og elektroteknikk, Institutt for elektronikk og telekommunikasjonnb_NO
dc.relation.ispartofseriesDoktoravhandlinger ved NTNU, 1503-8181; 2009:152nb_NO
dc.titleHeterodyne interferometry for dynamic and static characterization of micro and nanostructuresnb_NO
dc.typeDoctoral thesisnb_NO
dc.contributor.departmentNorges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Fakultet for informasjonsteknologi, matematikk og elektroteknikk, Institutt for elektronikk og telekommunikasjonnb_NO
dc.description.degreePhD i elektronteknikknb_NO
dc.description.degreePhD in Electrical Engineering


Tilhørende fil(er)

Thumbnail

Denne innførselen finnes i følgende samling(er)

Vis enkel innførsel